SJ/T 11497-2015-砷化镓晶片热稳定性的试验方法-国家数字标准馆

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砷化镓晶片热稳定性的试验方法 Test method for thermal stability testing of gallium arsenide wafers

发布日期： 2015-04-30

实施日期： 2015-10-01

分类信息

发布单位或类别：中国-行业标准-电子

CCS分类： H83冶金 - 半金属与半导体材料 - 化合物半导体材料

ICS分类： 29.045电气工程 - 半导体材料

关联关系

研制信息

归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会

起草单位：信息产业专用材料质量监督检验中心、工业和信息化部电子工业标准化研究院、苏州晶瑞化学有限公司

起草人：何秀坤、董彦辉、刘兵

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