ISO 16242:2011-表面化学分析——俄歇电子能谱（AES）中数据的记录和报告 -国家数字标准馆

现行 ISO 16242:2011

到馆阅读

收藏跟踪

购买正版

Surface chemical analysis — Recording and reporting data in Auger electron spectroscopy (AES) 表面化学分析——俄歇电子能谱（AES）中数据的记录和报告

发布日期： 2011-11-25

ISO 16242:2011规定了使用俄歇电子能谱（AES）分析试样后，分析员报告的最低信息水平。它包括要记录在分析记录上或分析记录中的信息。

ISO 16242:2011 specifies the minimum level of information to be reported by the analyst following the analysis of a test specimen using Auger electron spectroscopy (AES). It includes information that is to be recorded on or in the analytical record.

分类信息

发布单位或类别：国际组织-国际标准化组织

ICS分类： 71.040.40分析化学 - 化学分析

关联关系

研制信息

归口单位： ISO/TC 201/SC 2

相似标准/计划/法规

现行

GB/T 32565-2016

表面化学分析俄歇电子能谱（AES）数据记录与报告的规范要求
Surface chemical analysis—Recording and reporting data in Auger electron spectroscopy (AES)

2016-02-24

现行

DIN ISO 16242

Surface chemical analysis - Recording and reporting data in Auger electron spectroscopy (AES) (ISO 16242:2011); Text in English
表面化学分析.俄歇电子能谱（AES）中数据的记录和报告（ISO 16242-2011）；英文文本

2020-05-01

现行

GOST R ISO 16242-2016

Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Оже-электронная спектроскопия. Регистрация и представление данных
确保测量一致性的状态系统表面化学分析俄歇电子能谱（AES）中的记录和报告数据

现行

BS ISO 16243-2011

Surface chemical analysis. Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）中的数据记录和报告

2011-12-31

现行

GB/T 33502-2017

表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）数据记录与报告的规范要求
Surface chemical analysis—Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy（XPS）

2017-02-28

现行

ISO 16243-2011

Surface chemical analysis — Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
表面化学分析——X射线光电子能谱（XPS）中的数据记录和报告

2011-11-25

现行

BS 10/30199175 DC

BS ISO 16243. Surface chemical analysis. Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
BS ISO 16243 表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）中的数据记录和报告

2010-08-02

现行

GOST R ISO 16243-2016

Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Регистрация и представление данных
确保测量一致性的状态系统表面化学分析在X射线光电子能谱（XPS）中记录和报告数据