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现行
SJ/T 11585-2016
串行存储器接口要求
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Interface requirements for serial memory
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2016-01-15
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
SJ/T 11702-2018
半导体集成电路 串行外设接口测试方法
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Semiconductor integrated circuits Measuring methods for serial peripheral interface
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2018-02-09
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 35003-2018
非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
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Test methods for endurance and data retention of non-volatile memory
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-03-15
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 36477-2018
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
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Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-06-07
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 35009-2018
串行NAND型快闪存储器接口规范
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Specification for serial NAND flash interface
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-03-15
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 35008-2018
串行NOR型快闪存储器接口规范
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Specification for serial NOR flash interface
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-03-15
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
T/CESA 1232-2022
特定场景下的微控制器低功耗水平评价规范
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发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2022-11-30
CCS分类：
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
SJ/T 11701-2018
通用NAND型快闪存储器接口
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Common NAND flash memory inferface
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2018-02-09
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
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国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号，可接待到馆读者，为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
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开放时间：
每周一至周五8:30-17:00（节假日不开放）
地 址：
北京市海淀区知春路4号
乘车线路：
乘坐地铁10号线、昌平线，在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。
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