GB/T 36477-2018-半导体集成电路快闪存储器测试方法-国家数字标准馆

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半导体集成电路快闪存储器测试方法 Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory

发布日期： 2018-06-07

实施日期： 2019-01-01

本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。
本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试

分类信息

发布单位或类别：中国-国家标准

CCS分类： L56电子元器件与信息技术 - 微电路 - 半导体集成电路

ICS分类： 31.200电子学 - 集成电路、微电子学

关联关系

研制信息

归口单位：全国集成电路标准化技术委员会

起草单位：中国电子技术标准化研究院、中芯国际集成电路制造（上海）有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、深圳市中兴微电子技术有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司、复旦大学、中兴通讯股份有限公司

起草人：菅端端、陈大为、钟明琛、罗晓羽、冯光涛、倪昊、赵子鉴、董艺、田万廷、高硕、闵昊、刘刚

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