GB/T 35006-2018-半导体集成电路电平转换器测试方法-国家数字标准馆

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半导体集成电路电平转换器测试方法 Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter

发布日期： 2018-03-15

实施日期： 2018-08-01

本标准规定了半导体集成电路电平转换器(以下称为器件)功能、静态参数和动态参数的测试方法。本标准适用于半导体集成电路电平转换器功能、静态参数和动态参数的测试

分类信息

发布单位或类别：中国-国家标准

CCS分类： L56电子元器件与信息技术 - 微电路 - 半导体集成电路

ICS分类： 31.200电子学 - 集成电路、微电子学

关联关系

研制信息

归口单位：全国集成电路标准化技术委员会

起草单位：深圳市国微电子有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、工业和信息化部电子第五研究所、成都振芯科技股份有限公司

起草人：宦承永、邬海忠、陆坚、魏军、王小强、罗彬

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