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起草单位: 哈尔滨科友半导体产业装备与技术研究院有限公司
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GB/T 42676-2023
半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
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Test method for crystalline quality of semiconductive single crystal—X-ray diffraction method
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-08-06
现行
GB/T 43612-2023
碳化硅晶体材料缺陷图谱
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Collection of metallographs on defects in silicon carbide crystal materials
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-12-28
现行
GB/T 43885-2024
碳化硅外延片
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Silicon carbide epitaxial wafers
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2024-04-25
现行
GB/T 1555-2023
半导体单晶晶向测定方法
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Test methods for determining the orientation of a semiconductive single crystal
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-08-06
未生效
GB/T 24578-2024
半导体晶片表面金属沾污的测定 全反射X射线荧光光谱法
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Test method for measuring surface metal contamination on semiconductor wafers —Total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2024-07-24
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  • 《国家标准化发展纲要》提出建设国家数字标准馆，推动标准化工作向数字化、网络化、智能化转型。中国标准化研究院正在全力推进国家数字标准馆建设，力争在2026年底建成“一个中心”和“一个平台”，即全球领先的标准数据资源中心，涵盖标准全生命周期的数字化、网络化、智能化研究与服务平台。
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