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GB/T 42972-2023
微波电路 检波器测试方法
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Microwave circuits—Test methods for detector
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-09-07
CCS分类：L55微电路综合
现行
GB/T 4937.42-2023
半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分：温湿度贮存
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Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 42:Temperature and humidity storage
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-05-23
现行
GB/T 4937.27-2023
半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试 机器模型（MM）
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Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 27: Electrostatic discharge(ESD) sensitivity testing—Machine model(MM)
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-05-23
现行
GB/T 42706.5-2023
电子元器件 半导体器件长期贮存 第5部分：芯片和晶圆
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Electronic components—Long-term storage of electronic semiconductor devices—Part 5：Die and wafer devices
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-05-23
现行
GB/T 42706.2-2023
电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分：退化机理
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Electronic components—Long-term storage of electronic semiconductor devices—Part 2：Deterioration mechanisms
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-05-23
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