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DL/T 2241-2021
变电站室内轨道式巡检机器人系统通用技术条件
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General technical specification of indoor rail-based inspection robot system in substation
发布单位或类别：行业标准-电力
发布日期： 2021-01-07
作废
DL/T 664-2008
带电设备红外诊断应用规范
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Application rules of infrared diagnosis for live electrical equipment
发布单位或类别：行业标准-电力
发布日期： 2008-06-04
CCS分类：L52红外器件
现行
T/CAQI 204-2021
红外非接触式人体表面温度快速筛查系统
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发布单位或类别：团体标准
发布日期： 2021-05-18
未生效
GB/T 44312-2024
巡检机器人集中监控系统技术要求
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Inspection robot centralized monitoring system technical requirements
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2024-08-23
正在征求意见
20231779-T-339
半导体器件 微电子机械器件 第12部分：采用MEMS结构谐振法的薄膜材料挠曲疲劳试验方法
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Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2023-12-28
CCS分类：
正在征求意见
20231786-T-339
半导体器件 微电子机械器件 第29部分：室温下悬空导电薄膜的机电松弛试验方法
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Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 29: Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin-films under room temperature
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2023-12-28
CCS分类：
现行
GB/T 44006-2024
红外图像温度表示规则 RGB法
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Rules for the representation of infrared image temperature—Method by RGB
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2024-04-25
正在征求意见
20231785-T-339
半导体器件 微电子机械器件 第6部分：薄膜材料轴向疲劳试验方法
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Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2023-12-28
CCS分类：
正在征求意见
20231787-T-339
半导体器件 微电子机械器件 第8部分：薄膜拉伸特性测量的带材弯曲测试方法
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Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices-Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2023-12-28
CCS分类：
现行
T/CEC 615-2022
变电站机器人巡检系统集中监控验收规范
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发布单位或类别：团体标准
发布日期： 2022-06-23
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