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现行
Microwave circuits—Test methods for detector
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2023-09-07
CCS分类:L55微电路综合
现行
GB/T 42706.5-2023
电子元器件 半导体器件长期贮存 第5部分:芯片和晶圆
Electronic components—Long-term storage of electronic semiconductor devices—Part 5:Die and wafer devices
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2023-05-23
现行
GB/T 42706.2-2023
电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分:退化机理
Electronic components—Long-term storage of electronic semiconductor devices—Part 2:Deterioration mechanisms
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2023-05-23
现行
GB/T 4937.31-2023
半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分:塑封器件的易燃性(内部引起的)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 31:Flammability of platic-encapsulated devices(internally induced)
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2023-05-23