Испытания на воздействие внешних факторов. Часть 2-82. Испытания. Испытание XW с индексом 1: Методы испытания усов в электронных и электротехнических компонентах

Испытания на воздействие внешних факторов. Часть 2-54. Испытания. Испытание Ta: Испытание на паяемость электронных компонентов методом баланса смачивания

Метод оценки тепловых характеристик корпусов электронной аппаратуры

Испытания на воздействие внешних факторов. Часть 2-83. Испытания. Испытание Tf: Испытание на паяемость электронных компонентов для поверхностного монтажа с использованием припойной пасты методом баланса смачивания

Конструкции несущие базовые радиоэлектронных средств. Часть 2-5. Групповые технические условия. Координационные размеры интерфейса для базовых несущих конструкций с шагом 25 мм. Размеры интерфейса шкафа для дополнительного оборудования

Система тестовых программ для цифровых электронных модулей. Автоматизированные методы построения