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标准号
发布时间
现行
SJ 50033/3-1994
半导体分立器件 ＧＰ、ＧＴ和ＧＣＴ级ＧＨ２１、ＧＨ２２和ＧＨ２３型半导体光耦合器详细规范
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Semiconductor discrete device--Detail specification for semiconductor opto-couplers for type GH21,GH22 and GH23 of GP,GT and GCT classes
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
1994-09-30
CCS分类：
L54半导体光敏器件
ICS分类：
现行
SJ 50033/35-1994
ＧＨ３０型半导体高速光耦合器详细规范
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Detail specification for type GH30 semiconductor high speed optocoupler
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
1994-09-30
CCS分类：
L54半导体光敏器件
ICS分类：
现行
JB/T 9479-2011
光敏电阻器总规范
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General specifications for photoresistors
发布单位或类别：
行业标准-机械
发布日期：
2011-08-15
CCS分类：
L54半导体光敏器件
ICS分类：
19试验
现行
SJ 50033/114-1996
半导体光电子器件GD3283Y型位敏探测器详细规范
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Semiconductor optoelectronic devices Detail specification for type GD3283Y position sensitive detector
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
1996-08-30
CCS分类：
L54半导体光敏器件
ICS分类：
现行
SJ 50923/2-1995
Ｇ２－０１Ｂ－Ｍ１型和Ｇ２－０１Ｂ－Ｚ１型半导体光敏器件金属外壳详细规范
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Detail specification for Type G2-01B-M1,G2-01B-Z1 metal case for semiconductor photosensitive devices
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
1996-06-14
CCS分类：
L54半导体光敏器件
ICS分类：
现行
SJ 50923/1-1995
Ａ６－０２Ａ－Ｍ２／Ｚ２和Ａ６－０１Ｂ－Ｍ１／Ｚ１型半导体光耦合器金属外壳详细规范
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Detail specification for Types A6-02A-M2/Z2 and A6-01B-M1/Z1 metal case for semiconductor photocouplers
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
1996-06-14
CCS分类：
L54半导体光敏器件
ICS分类：
现行
JB/T 9478.7-2013
光电池测量方法 第7部分：暗电流温度特性
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发布单位或类别：
行业标准-机械
发布日期：
2013-12-31
CCS分类：
L54半导体光敏器件
ICS分类：
31.260光电子学、激光设备
现行
JB/T 9478.11-2013
光电池测量方法 第11部分：结电容
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发布单位或类别：
行业标准-机械
发布日期：
2013-12-31
CCS分类：
L54半导体光敏器件
ICS分类：
31.260光电子学、激光设备
现行
SJ/T 2216-2015
硅光电二极管技术规范
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Technical specification for photodiode of silicon
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2015-04-30
CCS分类：
L54半导体光敏器件
ICS分类：
31.080半导体分立器件
现行
SJ/T 2214-2015
半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
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Measuring methods for semiconductor photodiode and phototransistor
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2015-04-30
CCS分类：
L54半导体光敏器件
ICS分类：
31.080半导体分立器件
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国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号，可接待到馆读者，为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
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每周一至周五8:30-17:00（节假日不开放）
地 址：
北京市海淀区知春路4号
乘车线路：
乘坐地铁10号线、昌平线，在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。
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刘老师 电话：010-58811368 邮箱：liuyzh@cnis.ac.cn
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