现行

GB/T 15651.7-2024

半导体器件 第5-7部分：光电子器件 光电二极管和光电晶体管
Semiconductor devices—Part 5-7: Optoelectronic devices—Photodiodes and phototransistors

2024-03-15

现行

IEC 60747-5-7-2016

Semiconductor devices - Part 5-7: Optoelectronic devices - Photodiodes and phototransistors
半导体器件 - 第5-7部分:光电器件 - 光电二极管和光电晶体管

2016-02-23

现行

BS 11/30252930 DC

BS EN 60747-5-7. Semiconductor devices. Discrete devices. Part 5-7. Photodiodes and phototransistors
英国标准EN 60747-5-7 半导体器件 离散设备 第5-7部分 光电二极管和光电晶体管

2011-09-07

现行

DIN EN 60747-5-7-DRAFT

Draft Document - Semiconductor devices - Discrete devices - Part 5-7: Optoelectronic devices - Photodiodes and phototransistors (IEC 47E/420/CD:2011)
文件草案-半导体器件-分立器件-第5-7部分:光电子器件-光电二极管和光电晶体管（IEC 47E/420/CD:2011）

2011-12-01

现行

SJ/T 2354-2015

ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法
Measuring methods for photodiodes of PIN、APD

2015-04-30

现行

JIS C 5991-1997

Measuring methods of photodiodes for fiber optic transmission
光纤传输用光电二极管的测量方法

1997-01-01

现行

SJ/T 2215-2015

半导体光电耦合器测试方法
Measuring methods for semiconductor photocouplers

2015-04-30

现行

SJ/T 2749-2016

半导体激光二极管测试方法
Measuring methods for semiconductor laser diodes

2016-01-15

现行

SJ 2658-1986

半导体红外发光二极管测试方法
Method of measurement for semiconductor infrared diodes

1986-01-21

现行

GOST 18986.10-1974

Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности
半导体二极管 电感测量方法

现行

GOST 18986.4-1973

Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
半导体二极管 测量电容的方法

现行

JEDEC JEB 5-A(R1984)

METHODS OF MEASUREMENT FOR SEMICONDUCTOR LOGIC GATING MICROCIRCUITS
半导体逻辑门控微电路的测量方法

1970-01-01

现行

JEDEC JEB 15

TERMINOLOGY AND METHODS OF MEASUREMENT FOR BISTABLE SEMICONDUCTOR MICROCIRCUITS
双稳态半导体微电路术语和测量方法

1969-11-01

现行

JEDEC JEB 15

TERMINOLOGY AND METHODS OF MEASUREMENT FOR BISTABLE SEMICONDUCTOR MICROCIRCUITS
双稳态半导体微电路术语和测量方法

1969-11-01

现行

SJ/T 11394-2009

半导体发光二极管测试方法
Measure methods of semiconductor light emitting diodes

2009-11-17

现行

SJ 20788-2000

半导体二极管热阻抗测试方法
Measurment method for thermal impedance of semiconductor diodes

2000-10-20

现行

GB/T 14140-2009

硅片直径测量方法
Test method for measuring diameter of semiconductor wafer

2009-10-30

现行

GOST 18986.24-1983

Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
半导体二极管 击穿电压测量方法

现行

GOST 24461-1980

Приборы полупроводниковые силовые. Методы измерений и испытаний
功率半导体器件 测试和测量方法

现行

GOST 18986.5-1973

Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
半导体二极管 测量过渡时间的方法