ГОСТ 18986.10-74-半导体二极管电感测量方法-国家数字标准馆

现行 ГОСТ 18986.10-74

到馆阅读

收藏跟踪

购买正版

Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности 半导体二极管电感测量方法

实施日期： 1976-07-01

本标准适用于在壳体所有类型的半导体二极管，其中，0.1 nH的电感。标准规定用于测量二极管的电感两种方法:
   方法I - 对二极管nH的电感其中2个或更多;
   方法II - 为二极管，电感，其中小于2 NH

Настоящий стандарт распространяется на все типы полупроводниковых диодов в корпусе, у которых индуктивность более 0,1 нГн. Стандарт устанавливает два метода измерения индуктивности диодов:
 метод I - для диодов, индуктивность которых 2 нГн и более;
 метод II - для диодов, индуктивность которых менее 2 нГн

分类信息

发布单位或类别：俄罗斯-俄罗斯国家标准

CCS分类： N00/09仪器、仪表 - 仪器、仪表综合

ICS分类： 31.080.10半导体分立器件 - 二极管

关联关系

研制信息

相似标准/计划/法规

半导体激光二极管测试方法
Measuring methods for semiconductor laser diodes

半导体红外发光二极管测试方法
Method of measurement for semiconductor infrared diodes

GOST 18986.4-1973

Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
半导体二极管测量电容的方法

SJ/T 11394-2009

半导体发光二极管测试方法
Measure methods of semiconductor light emitting diodes

半导体二极管热阻抗测试方法
Measurment method for thermal impedance of semiconductor diodes

GOST 18986.24-1983

Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
半导体二极管击穿电压测量方法

GOST 18986.5-1973

Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
半导体二极管测量过渡时间的方法

GOST 18986.7-1973

Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
半导体二极管寿命测量方法

GOST 18986.6-1973

Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления
半导体二极管测量回收费用的方法

GOST 18986.12-1974

Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода
半导体隧道二极管测量本征二极管负电导的方法

GOST 18986.8-1973

Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления
半导体二极管逆向恢复时间测量方法

GOST 18986.14-1985

Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений
半导体二极管差分和斜率电阻测量方法

GOST 18986.1-1973

Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока
半导体二极管直接反向电流测量方法

GOST 18986.20-1977

Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим
半导体二极管参考齐纳二极管预热时间的测量方法

GOST 19656.14-1979

Диоды полупроводниковые СВЧ переключательные. Метод измерения критической частоты
半导体微波开关二极管临界频率测量方法

GOST 19656.2-1974

Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Метод измерения выпрямленного тока
半导体UHF混频二极管整流电流的测量方法

GOST 18986.0-1974

Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения
半导体二极管电气参数测量方法一般要求

GOST 19656.4-1974

Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения потерь преобразования
半导体UHF混频二极管转换损耗的测量方法

GOST 19656.7-1974

Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Метод измерения чувствительности по току
半导体UHF检测器二极管电流灵敏度测量方法

GOST 19656.13-1976

Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Методы измерения тангенциальной чувствительности
半导体UHF检测器二极管切向灵敏度测量方法

《国家标准化发展纲要》提出建设国家数字标准馆，推动标准化工作向数字化、网络化、智能化转型。中国标准化研究院正在全力推进国家数字标准馆建设，力争在2026年底建成“一个中心”和“一个平台”，即全球领先的标准数据资源中心，涵盖标准全生命周期的数字化、网络化、智能化研究与服务平台。

专题数据库

标准管理系统

大数据分析系统

标准智能研制系统