现行

SJ/T 2658.1-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第1部分：总则
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 1:General

2015-10-10

现行

SJ/T 2658.2-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第2部分：正向电压
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 2:Forward voltage

2015-10-10

现行

SJ/T 2658.11-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第11部分：响应时间
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 11:Response time

2015-10-10

现行

SJ/T 2658.6-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第6部分：辐射功率
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 6:Radiant power

2015-10-10

现行

SJ/T 2658.7-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第7部分：辐射通量
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 7:Radiant flux

2015-10-10

现行

SJ/T 2658.4-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第4部分：总电容
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 4:Total capacitance

2015-10-10

现行

SJ/T 2658.10-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第10部分：调制带宽
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 10:Modulation bandwidth

2015-10-10

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SJ/T 2658.14-2016

半导体红外发射二极管测量方法 第14部分：结温
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 14:Junction temperature

2016-01-15

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SJ/T 2658.15-2016

半导体红外发射二极管测量方法 第15部分：热阻
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 15:Thermal resistance

2016-01-15

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SJ/T 2658.8-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第8部分：辐射强度
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 8:Radiant intensity

2015-10-10

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SJ/T 2658.5-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第5部分：串联电阻
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 5:Series connection resistance

2015-10-10

现行

SJ/T 2658.13-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第13部分：辐射功率温度系数
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 13:Temperature coefficient for radiant power

2015-10-10

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SJ/T 2658.3-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第3部分：反向电压和反向电流
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 3:Reverse voltage and reverse current

2015-10-10

现行

SJ/T 2658.16-2016

半导体红外发射二极管测量方法 第16部分：光电转换效率
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 16:Photo-electric conversion efficiency

2016-01-15

现行

SJ/T 2749-2016

半导体激光二极管测试方法
Measuring methods for semiconductor laser diodes

2016-01-15

现行

GOST 18986.10-1974

Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности
半导体二极管 电感测量方法

现行

GOST 18986.4-1973

Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
半导体二极管 测量电容的方法

现行

SJ 20788-2000

半导体二极管热阻抗测试方法
Measurment method for thermal impedance of semiconductor diodes

2000-10-20

现行

GOST 18986.6-1973

Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления
半导体二极管 测量回收费用的方法

现行

GOST 18986.24-1983

Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
半导体二极管 击穿电压测量方法