首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
现行 SJ 20788-2000
到馆阅读
收藏跟踪
购买正版
半导体二极管热阻抗测试方法 Measurment method for thermal impedance of semiconductor diodes
发布日期: 2000-10-20
实施日期: 2000-10-20
分类信息
发布单位或类别: 中国-行业标准-电子
关联关系
研制信息
相似标准/计划/法规
现行
GOST 19656.3-1974
Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения выходного сопротивления на промежуточной частоте
半导体UHF混频二极管 中频输出阻抗的测量方法
现行
GOST 19656.15-1984
Диоды полупроводниковые СВЧ. Методы измерения теплового сопротивления переход-корпус и импульсного теплового сопротивления
半导体UHF二极管 热电阻和脉冲热阻的测量方法
现行
SJ/T 2658.15-2016
半导体红外发射二极管测量方法 第15部分:热阻
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 15:Thermal resistance
2016-01-15
现行
SJ 2658-1986
半导体红外发光二极管测试方法
Method of measurement for semiconductor infrared diodes
1986-01-21
现行
SJ/T 2749-2016
半导体激光二极管测试方法
Measuring methods for semiconductor laser diodes
2016-01-15
现行
GOST 18986.10-1974
Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности
半导体二极管 电感测量方法
现行
GOST 18986.4-1973
Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
半导体二极管 测量电容的方法
现行
GOST 19656.12-1976
Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Метод измерения полного входного сопротивления
半干涉UHF混合二极管 输入阻抗测量方法
现行
GOST 18986.6-1973
Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления
半导体二极管 测量回收费用的方法
现行
GOST 18986.24-1983
Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
半导体二极管 击穿电压测量方法
现行
GOST 18986.5-1973
Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
半导体二极管 测量过渡时间的方法
现行
GOST 18986.7-1973
Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
半导体二极管 寿命测量方法
现行
SJ/T 11394-2009
半导体发光二极管测试方法
Measure methods of semiconductor light emitting diodes
2009-11-17
现行
GOST 18986.12-1974
Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода
半导体隧道二极管 测量本征二极管负电导的方法
现行
GOST 18986.20-1977
Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим
半导体二极管 参考齐纳二极管 预热时间的测量方法
现行
GOST 18986.14-1985
Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений
半导体二极管 差分和斜率电阻测量方法
现行
GOST 18986.1-1973
Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока
半导体二极管 直接反向电流测量方法
现行
GOST 18986.8-1973
Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления
半导体二极管 逆向恢复时间测量方法
现行
GOST 18986.11-1984
Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь
半导体二极管 总串联等效电阻测量方法
现行
GOST 19656.7-1974
Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Метод измерения чувствительности по току
半导体UHF检测器二极管 电流灵敏度测量方法