现行

SJ/T 2658.2-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第2部分：正向电压
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 2:Forward voltage

2015-10-10

现行

GOST 18986.9-1973

Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления
半导体二极管 测量脉冲直流电压和脉冲恢复时间的方法

现行

GOST 18986.3-1973

Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока
半导体二极管 直接正向电压和直流正向电流测量方法

现行

SJ/T 2749-2016

半导体激光二极管测试方法
Measuring methods for semiconductor laser diodes

2016-01-15

现行

SJ 2658-1986

半导体红外发光二极管测试方法
Method of measurement for semiconductor infrared diodes

1986-01-21

现行

GOST 18986.10-1974

Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности
半导体二极管 电感测量方法

现行

GOST 18986.4-1973

Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
半导体二极管 测量电容的方法

现行

GOST 19656.1-1974

Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные и детекторные. Метод измерения коэффициента стоячей волны по напряжению
半导体UHF混合器和检测器二极管 电压驻波比的测量方法

现行

SJ/T 11394-2009

半导体发光二极管测试方法
Measure methods of semiconductor light emitting diodes

2009-11-17

现行

SJ 20788-2000

半导体二极管热阻抗测试方法
Measurment method for thermal impedance of semiconductor diodes

2000-10-20

现行

GOST 18986.5-1973

Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
半导体二极管 测量过渡时间的方法

现行

GOST 18986.7-1973

Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
半导体二极管 寿命测量方法

现行

GOST 18986.6-1973

Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления
半导体二极管 测量回收费用的方法

现行

SJ/T 2658.3-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第3部分：反向电压和反向电流
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 3:Reverse voltage and reverse current

2015-10-10

现行

GOST 18986.12-1974

Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода
半导体隧道二极管 测量本征二极管负电导的方法

现行

GOST 18986.15-1975

Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации
参考二极管 测量稳定电压的方法

现行

GOST 18986.8-1973

Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления
半导体二极管 逆向恢复时间测量方法

现行

GOST 18986.14-1985

Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений
半导体二极管 差分和斜率电阻测量方法

现行

GOST 18986.1-1973

Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока
半导体二极管 直接反向电流测量方法

现行

GOST 18986.20-1977

Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим
半导体二极管 参考齐纳二极管 预热时间的测量方法