首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
现行 JEDEC JEB 5-A(R1984)
收藏跟踪
购买正版
METHODS OF MEASUREMENT FOR SEMICONDUCTOR LOGIC GATING MICROCIRCUITS 半导体逻辑门控微电路的测量方法
发布日期: 1970-01-01
本公告中的选通逻辑和选通逻辑所用的二进制逻辑表示的信息。包括静态和动态测量。
The purpose of this bulletin is to recommend for use in the rating of semiconductor logic gating microcircuits which use the binary states to represent and process logic information. Both static and dynamic measurements are covered.
分类信息
发布单位或类别: 美国-JEDEC固态技术协会
关联关系
研制信息
相似标准/计划/法规
现行
JEDEC JEB 15
TERMINOLOGY AND METHODS OF MEASUREMENT FOR BISTABLE SEMICONDUCTOR MICROCIRCUITS
双稳态半导体微电路术语和测量方法
1969-11-01
现行
JEDEC JEB 15
TERMINOLOGY AND METHODS OF MEASUREMENT FOR BISTABLE SEMICONDUCTOR MICROCIRCUITS
双稳态半导体微电路术语和测量方法
1969-11-01
现行
GOST 24613.13-1977
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного тока короткого замыкания переключателей логических сигналов
光电集成微电路 测量逻辑信号开关短路的方法
现行
GOST 24613.11-1977
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения входного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
光电集成微电路 用于测量低电平和高电平逻辑信号开关的输入电压的方法
现行
GOST 24613.15-1977
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока потребления переключения и длительности тока потребления переключения переключателей логических сигналов
光电集成微电路 用于测量开关量消耗的方法及其逻辑信号开关的持续时间
现行
GOST 24613.12-1977
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
光电集成微电路 用于测量低电平和高电平逻辑信号开关的输出电压的方法
现行
GOST 24613.14-1977
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения токов потребления при низком и высоком уровнях выходного напряжения переключателей логических сигналов
光电集成微电路 用于测量低电平和高电平逻辑信号开关的消耗电流的方法
现行
GOST 24613.10-1977
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока помехи и напряжения помехи низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
光电集成微电路 用于测量低电平和高电平逻辑信号开关的噪声电流和噪声电压的方法