首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
国家标准 行业标准 地方标准 团体标准 国际（区域）标准 国外国家标准 国际性专业标准 技术法规
国内舆情 国际舆情
文献服务 知识服务 服务站点
标准数字化 技贸措施研究
国家标准馆 国家数字标准馆 发展大事记
搜索
高级检索
批量检索
高级检索
起草人: 周少丰
标准层级
全部
国家标准
行业标准
地方标准
团体标准
国际（区域）标准
国外国家标准
国际性专业标准
技术法规
国家
全部
中国(7)
标准组织
全部
国家标准(5)
团体标准(2)
发布年代
全部
2023(5)
2022(2)
标准状态
全部
现行(7)
ICS
全部
31电子学(6)
CCS
全部
H冶金(1)
L电子元器件与信息技术(6)
展开全部分类
  • 排序结果：
  • 相关性
  • 标准号
  • 发布时间
现行
T/COEMA 001L-2022
蓝光半导体激光器
到馆提醒
收藏跟踪
发布单位或类别：团体标准
发布日期： 2022-12-16
CCS分类：L51激光器件
现行
GB/T 43493.2-2023
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分：缺陷的光学检测方法
到馆阅读
收藏跟踪
Semiconductor device—Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices—Part 2: Test method for defects using optical inspection
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-12-28
现行
GB/T 42403-2023
激光器和激光相关设备 激光光谱特性测量方法
到馆阅读
收藏跟踪
Lasers and laser-related equipment—Test methods for the spectral characteristics of lasers
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-03-17
CCS分类：L51激光器件
现行
GB/T 43493.3-2023
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分：缺陷的光致发光检测方法
到馆阅读
收藏跟踪
Semiconductor device—Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices—Part 3: Test method for defects using photoluminescence
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-12-28
现行
GB/T 43493.1-2023
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分：缺陷分类
到馆阅读
收藏跟踪
Semiconductor device—Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices—Part 1: Classification of defects
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-12-28
现行
T/COEMA 002L-2022
MOPA脉冲光纤激光器
到馆提醒
收藏跟踪
发布单位或类别：团体标准
发布日期： 2022-12-16
CCS分类：L51激光器件
现行
GB/T 42622-2023
增材制造 激光定向能量沉积用钛及钛合金粉末
到馆阅读
收藏跟踪
Additive manufacturing—Titanium and titanium alloy powder for laser-based directed energy deposition
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-05-23
ICS分类：
  • 关于国家数字标准馆
  • 《国家标准化发展纲要》提出建设国家数字标准馆，推动标准化工作向数字化、网络化、智能化转型。中国标准化研究院正在全力推进国家数字标准馆建设，力争在2026年底建成“一个中心”和“一个平台”，即全球领先的标准数据资源中心，涵盖标准全生命周期的数字化、网络化、智能化研究与服务平台。
    • 文献服务
  • 查标准
  • 看标准
  • 买标准
  • 译标准
    • 知识服务
  • 查新颖性
  • 查有效性
  • 跟踪标准
  • 比对标准
    • 标准数字化
  • 专题数据库
  • 标准管理系统
  • 大数据分析系统
  • 标准智能研制系统
    • 出版物经营许可证：新出发京批字第直170229号
    地址：北京市海淀区知春路4号
    邮箱：service@cnis.ac.cn
    技术支持与订单查询：010-58811972/1360/1341/1328 京ICP备10046988号-46
    ️版权归中国标准化研究院所有