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起草人: 李锟
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SJ 20954-2006
集成电路锁定试验
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Integrated circuits latch-up test
发布单位或类别：行业标准-电子
发布日期： 2006-08-07
CCS分类：
ICS分类：
现行
SJ 21384-2018
氧化层可动电荷的电容-电压测试方法
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Test method of capacitance-voltage for mobile ion charge of oxides
发布单位或类别：行业标准-电子
发布日期： 2018-01-18
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现行
SJ/Z 21584-2020
片式膜固定电阻器统计过程控制技术实施指南
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Guide to implementation statistical process control technique of fixed film chip resistors
发布单位或类别：行业标准-电子
发布日期： 2020-06-03
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现行
SJ/Z 21583-2020
瓷介电容器统计过程控制技术实施指南
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Guide for statistical process control technique implementation of ceramic capacitors
发布单位或类别：行业标准-电子
发布日期： 2020-06-03
CCS分类：
ICS分类：
现行
SJ/Z 21580-2020
半导体分立器件统计过程控制技术实施指南
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Guide for statistical process control technique implementation of discrete semiconductor devices
发布单位或类别：行业标准-电子
发布日期： 2020-06-03
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SJ 21383-2018
P-N结隔离测试方法
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Test method for P-N junction isolation
发布单位或类别：行业标准-电子
发布日期： 2018-01-18
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现行
SJ 21382-2018
离子注入均匀性测试方法
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Test method for the ion implantation uniformity
发布单位或类别：行业标准-电子
发布日期： 2018-01-18
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SJ 21381-2018
时间相关介质击穿(TDD8)测试方法
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Test method for time dependent dielectric breakdown ( TDDB)
发布单位或类别：行业标准-电子
发布日期： 2018-01-18
CCS分类：
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现行
SJ 21380-2018
热载流子效应测试方法
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Test method of hot carrier effect
发布单位或类别：行业标准-电子
发布日期： 2018-01-18
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T/QGCML 2816-2023
电解式高浓度臭氧气机应用于急救车工艺规范
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发布单位或类别：团体标准
发布日期： 2023-12-22
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