现行

ESD TR5.4-03-11

ESD Association Technical Report For Electrostatic Discharge Sensitivity Testing - Latch-Up Sensitivity Testing of CMOS/BiCMOS Integrated Circuits, Transient Latch-up Testing - Component Level, Supply Transient Stimulation
静电放电灵敏度测试的ESD协会技术报告.CMOS/BiCMOS集成电路的闭锁灵敏度测试 瞬态闭锁测试.组件级 电源瞬态刺激

现行

SJ 20291-1993

半导体集成电路 JT54LS279、JT54LS375型LS-TTL锁存器详细规范
detail specification for JT54LS279,JT54LS375 types latches of LS-TTL semiconductor integrated circuits

1993-05-11

现行

BS EN 60749-29-2011

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Latch-up test
半导体器件 机械和气候试验方法

2011-08-31

现行

IEC 60749-29-2011

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第29部分:闩锁测试

2011-04-07

现行

UNE-EN 60749-29-2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 29: Latch-up test
半导体器件机械和气候试验方法第29部分:闭锁试验

2004-07-09

现行

ESD TR5.4-04-13

ESD Association Technical Report For Electrostatic Discharge Sensitivity Testing - Transient Latch-up Testing
ESD协会静电放电灵敏度测试技术报告-瞬态闭锁测试

现行

JJG 1015-2006

通用数字集成电路测试系统
General Digital Integrated Circuit Testing System

2006-12-08

现行

GB/T 35005-2018

集成电路倒装焊试验方法
Test methods for flip chip integrated circuits

2018-03-15

现行

GOST 23089.10-1983

Микросхемы интегральные. Метод измерения максимальной скорости и времени нарастания выходного напряжения операционных усилителей
集成电路 测量运算放大器输出电压最大累积速率和时间的方法

现行

GB 51122-2015

集成电路封装测试厂设计规范(附条文说明)
Code for design of integrated circuit assembly and test factory

2015-08-27

现行

SJ/T 11512-2015

集成电路用 电子浆料性能试验方法
Test methods of electronic pastes for integrated circuit performent

2015-04-30

现行

GB/T 43063-2023

集成电路 CMOS图像传感器测试方法
Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors

2023-09-07

现行

GB/T 36479-2018

集成电路 焊柱阵列试验方法
Integrated circuits—Test methods for column grid array

2018-06-07

现行

GB/T 43061-2023

半导体集成电路 PWM控制器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Test methods of PWM controller

2023-09-07

现行

GB/T 42975-2023

半导体集成电路 驱动器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Test method of driver device

2023-09-07

现行

BS 09/30209746 DC

BS EN 60749-29. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 29. Latch-up test
英国标准EN 60749-29 半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分 闭锁试验

2009-09-08

现行

KS C 6049(2020 Confirm)

반도체 접적 회로의 환경 시험 방법 및 내구성 시험 방법
环境试验方法和耐久性试验方法半导体集成电路

1980-11-29

现行

SJ 50597/35-1995

半导体集成电路 ＪＣ４５２０型ＣＭＯＳ双４位二进制同步计数器详细规范
Semiconductor integrated circuits--Detail specification for Type JC4520 CMOS dual 4-bit binary up-counters

1996-06-14

现行

DID DI-ATTS-80888

INTEGRATED CIRCUIT TEST DOCUMENTATION (SUPERSEDING DI-E-5432A)
集成电路测试文件（取代DI-E-5432A）

1989-08-03

现行

GB/T 43040-2023

半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Test method of AC/DC converters

2023-09-07