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发布时间
现行
YS/T 1301-2019
氯硅烷中三氯氧磷、三氯化磷的测定 气相色谱质谱联用法
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Determination of phosphorus oxychloride,phosphorus trichloride in chlorosilanes-Gas chromatography-mass spectrometry method
发布单位或类别:
行业标准-有色金属
发布日期:
2019-08-02
CCS分类:
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类:
77.040金属材料试验
现行
YS/T 1300-2019
氯硅烷中甲基二氯硅烷、三甲基氯硅烷、甲基三氯硅烷的测定 气相色谱质谱联用法
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Determination of methyldichlorosilane,trimethylchlorosilane and methyltrichlorosilane in chlorosilanes-Gas chromatography-mass spectrometry method
发布单位或类别:
行业标准-有色金属
发布日期:
2019-08-02
CCS分类:
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类:
77.040金属材料试验
现行
T/CNIA 0063-2020
电子工业用高纯硝酸
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发布单位或类别:
团体标准
发布日期:
2020-05-27
CCS分类:
H60/69有色金属及其合金产品
ICS分类:
71.060.01无机化学综合
现行
GB/T 35306-2023
硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
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Determination of carbon and oxygen content in single crystal silicon—Low temperature fourier transform infrared spectrometry method
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
2023-08-06
CCS分类:
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类:
77.040金属材料试验
现行
GB/T 1558-2023
硅中代位碳含量的红外吸收测试方法
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Test method for substitutional carbon content in silicon by infrared absorption
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
2023-12-28
CCS分类:
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类:
77.040金属材料试验
现行
GB/T 24581-2022
硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
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Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
2022-03-09
CCS分类:
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类:
77.040金属材料试验
现行
GB/T 18916.47-2020
取水定额 第47部分:多晶硅生产
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Norm of water intake—Part 47: Polysilicon production
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
2020-03-31
CCS分类:
P41室外给水、排水工程
ICS分类:
13.060.25工业用水
现行
GB/T 24582-2023
多晶硅表面金属杂质含量测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法
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Test method for measuring surface metal impurity content of polycrystalline silicon—Acid extraction-inductively coupled plasma mass spectrometry method
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
2023-08-06
CCS分类:
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类:
77.040金属材料试验
现行
GB/T 4059-2018
硅多晶气氛区熔基磷检验方法
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Test method for phosphorus content in polycrystalline silicon by zone-melting method under controlled atmosphere
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
2018-12-28
CCS分类:
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类:
77.040金属材料试验
现行
GB/T 1553-2023
硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法
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Test methods for minority carrier lifetime in bulk silicon and germanium—Photoconductivity decay method
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
2023-08-06
CCS分类:
H21金属物理性能试验方法
ICS分类:
77.040金属材料试验
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