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起草人: 赵松彬
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GB/T 32188-2015
氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
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The method for full width at half maximum of double crystal X-ray rocking curve of GaN single crystal substrate
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2015-12-10
现行
GB/T 1555-2023
半导体单晶晶向测定方法
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Test methods for determining the orientation of a semiconductive single crystal
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-08-06
现行
GB/T 34210-2017
蓝宝石单晶晶向测定方法
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Test method for determining the orientation of sapphire single crystal
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2017-09-07
现行
GB/T 42676-2023
半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
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Test method for crystalline quality of semiconductive single crystal—X-ray diffraction method
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-08-06
现行
GB/T 34612-2017
蓝宝石晶体X射线双晶衍射摇摆曲线测量方法
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Measurement method for X-ray double crystal diffraction rocking curve of sapphire crystals
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2017-10-14
现行
GB/T 35316-2017
蓝宝石晶体缺陷图谱
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Collection of metallographs on defects of sapphire crystal
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2017-12-29
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