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起草人: 马春喜
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SJ 51427/18-2016
C1-6.0/125-2-D型偏振保持光纤详细规范
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Detail specification for polarization maintaining optical fiber of Cl-6.0/125-2-D
发布单位或类别：行业标准-电子
发布日期： 2016-01-19
CCS分类：
ICS分类：
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GB/T 42676-2023
半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
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Test method for crystalline quality of semiconductive single crystal—X-ray diffraction method
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-08-06
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GB/T 43313-2023
碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试 共焦点微分干涉法
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Test method for surface quality and micropipe density of polished silicon carbide wafers—Confocal and differential interferometry optics
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-11-27
现行
GB/T 6616-2023
半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法
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Test method for resistivity of semiconductor wafers and sheet resistance of semiconductor films—Noncontact eddy-current gauge
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-08-06
现行
GB/T 1558-2023
硅中代位碳含量的红外吸收测试方法
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Test method for substitutional carbon content in silicon by infrared absorption
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-12-28
现行
GB/T 1555-2023
半导体单晶晶向测定方法
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Test methods for determining the orientation of a semiconductive single crystal
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-08-06
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