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起草人: 刘春俊
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现行
T/IAWBS 001-2017
碳化硅单晶
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发布单位或类别：团体标准
发布日期： 2017-12-20
CCS分类：J43磨料与磨具
现行
T/ZSA 38-2020
SiC晶片的残余应力检测方法
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发布单位或类别：团体标准
发布日期： 2020-12-17
被代替
GB/T 30656-2014
碳化硅单晶抛光片
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Polished monocrystalline silicon carbide wafers
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2014-12-31
现行
T/IAWBS 005-2024
6~8英寸碳化硅单晶抛光片
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发布单位或类别：团体标准
发布日期： 2024-01-12
CCS分类：H冶金
废止
T/IAWBS 005-2018
6 英寸碳化硅单晶抛光片
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发布单位或类别：团体标准
发布日期： 2018-12-06
现行
GB/T 30656-2023
碳化硅单晶抛光片
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Polished monocrystalline silicon carbide wafers
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-03-17
现行
T/IAWBS 011-2019
导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法
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发布单位或类别：团体标准
发布日期： 2019-12-27
现行
T/ZSA 72-2019
碳化硅单晶
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发布单位或类别：团体标准
发布日期： 2019-12-31
现行
T/IAWBS 001-2021
碳化硅单晶
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发布单位或类别：团体标准
发布日期： 2021-09-16
CCS分类：J43磨料与磨具
现行
T/IAWBS 014-2021
碳化硅单晶抛光片位错密度的测试方法
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发布单位或类别：团体标准
发布日期： 2021-09-15
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  • 《国家标准化发展纲要》提出建设国家数字标准馆，推动标准化工作向数字化、网络化、智能化转型。中国标准化研究院正在全力推进国家数字标准馆建设，力争在2026年底建成“一个中心”和“一个平台”，即全球领先的标准数据资源中心，涵盖标准全生命周期的数字化、网络化、智能化研究与服务平台。
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