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ASTM E388-04
Standard Test Method for Wavelength Accuracy of Spectral Bandwidth Fluorescence Spectrometers
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光谱带宽荧光光谱仪波长精度的标准试验方法
发布单位或类别:
美国材料与试验协会
发布日期:
2004-11-01
CCS分类:
ICS分类:
17.180.30光学测量仪器
历史
ASTM E275-08(2013)
Standard Practice for Describing and Measuring Performance of Ultraviolet and Visible Spectrophotometers
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描述和测量紫外和可见分光光度计性能的标准实践
发布单位或类别:
美国材料与试验协会
发布日期:
2013-01-01
CCS分类:
ICS分类:
17.180.30光学测量仪器
历史
ASTM E387-04(2014)
Standard Test Method for Estimating Stray Radiant Power Ratio of Dispersive Spectrophotometers by the Opaque Filter Method
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通过不透明过滤法估算分散型分光光度计的杂散辐射功率比的标准测试方法
发布单位或类别:
美国材料与试验协会
发布日期:
2014-08-01
CCS分类:
ICS分类:
17.180.30光学测量仪器
历史
ASTM E388-04(2009)
Standard Test Method for Wavelength Accuracy and Spectral Bandwidth of Fluorescence Spectrometers <sup>,</sup>
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荧光光谱仪波长精度和光谱带宽的标准试验方法
发布单位或类别:
美国材料与试验协会
发布日期:
2009-10-01
CCS分类:
ICS分类:
17.180.30光学测量仪器
历史
ASTM E387-84(1995)e1
Standard Test Method for Estimating Stray Radiant Power Ratio of Spectrophotometers by the Opaque Filter Method
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用不透明滤光片法估算分光光度计杂散辐射功率比的标准试验方法
发布单位或类别:
美国材料与试验协会
发布日期:
1995-01-01
CCS分类:
ICS分类:
17.180.30光学测量仪器
历史
ASTM E275-01
Standard Practice for Describing and Measuring Performance of Ultraviolet, Visible, and Near-Infrared Spectrophotometers
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描述和测量紫外可见光和近红外分光光度计性能的标准实施规程
发布单位或类别:
美国材料与试验协会
发布日期:
2001-02-10
CCS分类:
ICS分类:
17.180.30光学测量仪器
历史
ASTM E169-63(1977)
Standard Recommended Practices for General Techniques Of Ultraviolet Quantitative Analysis
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紫外线定量分析通用技术的标准推荐规程
发布单位或类别:
美国材料与试验协会
发布日期:
CCS分类:
ICS分类:
历史
ASTM E169-99
Standard Practices for General Techniques of Ultraviolet-Visible Quantitative Analysis
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紫外可见定量分析一般技术的标准做法
发布单位或类别:
美国材料与试验协会
发布日期:
1999-02-10
CCS分类:
ICS分类:
71.040.50物理化学分析方法
历史
ASTM E579-04
Standard Test Method for Limit of Detection of Fluorescence of Quinine Sulfate in Solution
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溶液中硫酸奎宁荧光检测极限的标准测试方法
发布单位或类别:
美国材料与试验协会
发布日期:
2004-02-01
CCS分类:
ICS分类:
历史
ASTM E958-13
Standard Practice for Estimation of the Spectral Bandwidth of Ultraviolet-Visible Spectrophotometers
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紫外可见分光光度计光谱带宽估算标准实践
发布单位或类别:
美国材料与试验协会
发布日期:
2013-01-01
CCS分类:
ICS分类:
17.180.30光学测量仪器
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国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号,可接待到馆读者,为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
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每周一至周五8:30-17:00(节假日不开放)
地 址:
北京市海淀区知春路4号
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