现行

KS C IEC 60747-6(2016 Confirm)

반도체 소자－개별 소자－제6부：사이리스터
半导体器件分立器件第6部分:晶闸管

2006-12-27

现行

KS C IEC 60747-6

반도체 소자 — 제6부：개별 소자 —사이리스터
半导体器件第6部分:分立器件晶闸管

2021-12-29

现行

IEC 60747-6-2016

Semiconductor devices - Part 6: Discrete devices - Thyristors
半导体器件 - 第6部分:分立器件 - 晶闸管

2016-04-13

现行

KS C IEC 60747-5

반도체 소자 — 개별 소자 —제5부: 광전소자
半导体器件分立器件第5部分:光电器件

2020-12-24

现行

BS 11/30252924 DC

BS EN 60747-5-6. Semiconductor devices. Discrete devices. Part 5-6. Optoelectronic devices. Light emitting diodes
英国标准EN 60747-5-6 半导体器件 离散设备 第5-6部分 光电器件 发光二极管

2011-09-07

现行

DIN EN 60747-6-DRAFT

Draft Document - Semiconductor devices - Discrete devices - Part 6: Thyristors (IEC 47E/444/CD:2012)
文件草案-半导体器件-分立器件-第6部分:晶闸管（IEC 47E/444/CD:2012）

2013-01-01

现行

GB/T 15651.4-2017

半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器
Semiconductor devices—Discrete devices—Part 5-4:Optoelectronic devices—Semiconductor lasers

2017-05-31

现行

GB/T 15651-1995

半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件
Semiconductor devices--Discrete devices and integrated circuits--Part 5:Optoelectronic devices

1995-07-24

现行

GOST 29283-1992

Полупроводниковые приборы. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 5. Оптоэлектронные приборы
半导体器件 分立器件和集成电路 光电器件

现行

DIN EN 60747-5-7-DRAFT

Draft Document - Semiconductor devices - Discrete devices - Part 5-7: Optoelectronic devices - Photodiodes and phototransistors (IEC 47E/420/CD:2011)
文件草案-半导体器件-分立器件-第5-7部分:光电子器件-光电二极管和光电晶体管（IEC 47E/420/CD:2011）

2011-12-01

现行

DIN IEC 60747-15-DRAFT

Draft Document - Semiconductor devices - Discrete devices - Part 15: Isolated power semiconductor devices (IEC 47E/322/CD:2007)
文件草案.半导体器件.分立器件.第15部分:隔离功率半导体器件（IEC 47E/322/CD:2007）

2007-06-01

现行

KS C IEC 60747-5-1

개별 반도체 소자 및 집적 회로 —제5-1부: 광전소자 — 일반 사항
分立半导体器件和集成电路第5-1部分:光电器件总则

2020-12-24

现行

BS 07/30164953 DC

IEC 60747-14-5. Semiconductor devices. Discrete devices. Part 14-5. Semiconductor sensors. PN-junction semiconductor temperature sensor
IEC 60747-14-5 半导体器件 离散设备 第14-5部分 半导体传感器 PN结半导体温度传感器

2007-04-19

现行

KS C IEC 60747-5-3

개별 반도체 소자 및 집적 회로— 제5-3부: 광전 소자 — 측정 방법
分立半导体器件和集成电路 - 第5-3部分:光电器件 - 测量方法

2020-12-24

现行

GB/T 15651.3-2003

半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods

2003-11-24

现行

BS 11/30252930 DC

BS EN 60747-5-7. Semiconductor devices. Discrete devices. Part 5-7. Photodiodes and phototransistors
英国标准EN 60747-5-7 半导体器件 离散设备 第5-7部分 光电二极管和光电晶体管

2011-09-07

现行

IEC 60747-5-6-2021

Semiconductor devices - Part 5-6: Optoelectronic devices - Light emitting diodes
半导体器件 - 第5-6部分:光电子器件 - 发光二极管

2021-07-06

现行

IEC 60747-5-6-2021 RLV

Semiconductor devices - Part 5-6: Optoelectronic devices - Light emitting diodes
半导体器件第5-6部分:光电子器件发光二极管

2021-07-06

现行

GB/T 15651.6-2023

半导体器件 第5-6部分：光电子器件 发光二极管
Semiconductor devices—Part 5-6: Optoelectronic devices—Light emitting diodes

2023-09-07

现行

KS C IEC 60747-5-2

개별 반도체 소자 및 집적 회로 —제5-2부: 광전소자 — 필수 정격 및 특성
分立半导体器件和集成电路 - 第5-2部分:光电子器件 - 基本等级和特性

2020-12-24