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现行 ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001
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Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем 半导体器件集成电路 第11部分 第1部分不包括混合电路的半导体集成电路的内部目视检查
实施日期: 2002-07-01
此标准规定了测试,其被执行以检查内部材料,制造和集成电路的组件,用于遵守适用的技术规格为特定类型的产品
Настоящий стандарт устанавливает испытания, которые проводят с целью проверки внутренних материалов, изготовления и сборки интегральных схем на соответствие требованиям применяемых технических условий на изделия конкретных типов
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研制信息
相似标准/计划/法规
现行
IEC 60748-11-1990/AMD1-1995
Amendment 1 - Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 11: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
修改件1.半导体器件.集成电路.第11部分:不包括混合电路的半导体集成电路分规范
1995-06-06
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IEC 60748-11-1990
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 11: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
半导体器件 - 集成电路 - 第11部分:不包括混合电路的半导体集成电路的分段规范
1990-12-20
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KS C IEC 60748-11
반도체 소자 — 집적 회로 — 제11부:반도체 집적 회로에 대한 품종 규격(혼성 회로 제외)
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2020-07-23
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GB/T 12750-2006
半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路)
Semiconductor devices―Integrated circuits―Part 11: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
2006-08-23
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2003-11-24
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IEC 60748-11-1990/AMD2-1999
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修改件2.半导体器件.集成电路.第11部分:不包括混合电路的半导体集成电路分规范
1999-04-16
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IEC 60748-11-1-1992
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 11-1: Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
半导体器件 - 集成电路 - 第11-1部分:不包括混合电路的半导体集成电路的内部目视检查
1992-04-01
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KS C IEC 60748-11-1(2020 Confirm)
반도체 소자-집적 회로-제11-1부:혼성 회로를 제외한 반도체 집적 회로를 위한 내장 검사
半导体器件集成电路第11-1部分:不包括混合电路的半导体集成电路内部目视检查
2004-08-13
现行
IEC 60748-1-2002
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 1: General
半导体器件 - 集成电路:第1部分总则
2002-05-08
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KS C IEC 60748-1
반도체 소자 — 집적 회로 — 제1부: 일반
半导体器件 - 集成电路:第1部分总则
2019-12-31
现行
KS C IEC 60748-1
반도체 소자 — 집적 회로 — 제1부: 일반
半导体器件集成电路第1部分:总则
2021-12-29
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GB/T 16464-1996
半导体器件 集成电路 第1部分:总则
Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 1:General
1996-07-09
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GOST 29106-1991
Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 1. Общие положения
半导体器件 集成电路 一般
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KS C IEC 60748-3-1(2017 Confirm)
반도체 소자-집적 회로-제3-1부:아날로그 집적 회로-OP 앰프
半导体器件集成电路第3部分:模拟集成电路第1节:单片集成运算放大器空白详细规范
2002-11-30
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KS C IEC 60748-3-1(2022 Confirm)
반도체 소자-집적 회로-제3-1부:아날로그 집적 회로-OP 앰프
半导体器件集成电路第3部分:模拟集成电路第1节:单片集成运算放大器空白详细规范
2002-11-30
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IEC 60748-3-1986/AMD1-1991
Amendment 1 - Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 3: Analogue integrated circuits
修改件1——半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
1991-11-15
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GB/T 17573-1998
半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则
Semiconductor devices--Discrete devices and integrated circuits--Part 1:General
1998-11-17
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2002-11-30
现行
IEC 60748-2-6-1991
Semiconductor devices. Integrated circuits - Part 2: Digital integrated circuits - Section Six: Blank detail specification for microprocessor integrated circuits
半导体器件 集成电路 - 第2部分:数字集成电路 - 第6部分:微处理器集成电路的空白详细规范
1991-11-15
现行
KS C IEC 60748-2-6(2022 Confirm)
반도체 소자-집적 회로-제2-6부:디지털 집적 회로-마이크로프로세서
半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第6节:微处理器集成电路空白详细规范
2002-11-30