现行

KS C IEC 60748-11-1(2020 Confirm)

반도체 소자－집적 회로－제11－1부：혼성 회로를 제외한 반도체 집적 회로를 위한 내장 검사
半导体器件集成电路第11－1部分:不包括混合电路的半导体集成电路内部目视检查

2004-08-13

现行

GB/T 19403.1-2003

半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 （不包括混合电路）
Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)

2003-11-24

现行

GOST R IEC 748-11-1-2001

Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем
半导体器件集成电路 第11部分 第1部分不包括混合电路的半导体集成电路的内部目视检查

现行

IEC 60748-11-1990/AMD1-1995

Amendment 1 - Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 11: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
修改件1.半导体器件.集成电路.第11部分:不包括混合电路的半导体集成电路分规范

1995-06-06

现行

KS C IEC 60748-11

반도체 소자 — 집적 회로 — 제11부:반도체 집적 회로에 대한 품종 규격(혼성 회로 제외)
半导体器件 - 集成电路 - 第11部分:不包括混合电路的半导体集成电路的分段规范

2020-07-23

现行

IEC 60748-11-1990

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 11: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
半导体器件 - 集成电路 - 第11部分:不包括混合电路的半导体集成电路的分段规范

1990-12-20

现行

GB/T 12750-2006

半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路分规范（不包括混合电路）
Semiconductor devices―Integrated circuits―Part 11: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits

2006-08-23

现行

IEC 60748-11-1990/AMD2-1999

Amendment 2 - Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 11: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
修改件2.半导体器件.集成电路.第11部分:不包括混合电路的半导体集成电路分规范

1999-04-16

现行

IEC 60050-521-2002/AMD1-2017

Amendment 1 - International Electrotechnical Vocabulary - Part 521: Semiconductor devices and integrated circuits
修改件1.国际电工词汇.第521部分:半导体器件和集成电路

2017-08-30

现行

KS C IEC 60748-1

반도체 소자 — 집적 회로 — 제1부: 일반
半导体器件 - 集成电路:第1部分总则

2019-12-31

现行

KS C IEC 60748-1

반도체 소자 — 집적 회로 — 제1부: 일반
半导体器件集成电路第1部分:总则

2021-12-29

现行

IEC 60748-1-2002

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 1: General
半导体器件 - 集成电路:第1部分总则

2002-05-08

现行

GB/T 16464-1996

半导体器件 集成电路 第1部分:总则
Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 1:General

1996-07-09

现行

GOST 29106-1991

Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 1. Общие положения
半导体器件 集成电路 一般

现行

IEC 60050-521-2002

International Electrotechnical Vocabulary - Part 521: Semiconductor devices and integrated circuits
国际电工词汇 - 第521部分:半导体器件和集成电路

2002-05-22

现行

IEC 60748-3-1986/AMD1-1991

Amendment 1 - Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 3: Analogue integrated circuits
修改件1——半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路

1991-11-15

现行

GB/T 17573-1998

半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则
Semiconductor devices--Discrete devices and integrated circuits--Part 1:General

1998-11-17

现行

KS C IEC 60748-20-1(2019 Confirm)

반도체 소자 - 집적회로 제20-1부 : 필름 집적회로 및 하이브리드 필름 집적회로의 일반 규격서 - 내부 육안검사 요구사항
半导体器件 - 集成电路 - 第20部分:薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的通用规范 - 第1部分:内部目视检查的要求

2003-12-31

现行

IEC 60748-20-1-1994

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 20: Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits - Section 1: Requirements for internal visual examination
半导体器件 - 集成电路 - 第20部分:薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的通用规范 - 第1部分:内部目视检查的要求

1994-03-01

现行

GB/T 43035-2023

半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求
Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 20: Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits—Section 1: Requirements for internal visual examination

2023-09-07