本标准适用于以晶硅为基础的地面光电组件。该标准规定了在使用过程中对高电压短期作用的稳定性进行试验的方法，这种作用导致光电组件的降解。该标准适用于含有以下内容的光电组件:-具有钝化透光介质的晶硅光电元件，其降解机制可能与离子迁移有关，1.在光伏电池表面附近或与之发生电相互作用的电场上产生影响；-表面玻璃涂层。本标准不适用于太阳辐射集中器的光电模块，也不适用于串联光电元件的模块。

Настоящий стандарт распространяется на наземные фотоэлектрические модули на основе кристаллического кремния. Стандарт устанавливает методы испытаний на стойкость к кратковременному воздействию высокого напряжения, приводящему к деградации фотоэлектрических модулей в процессе эксплуатации. Стандарт распространяется на фотоэлектрические модули, которые содержат: - фотоэлектрические элементы из кристаллического кремния с пассивирующим/просветляющим диэлектрическим покрытием, механизмы деградации которых могут быть обусловлены подвижностью ионов, влияющих на электрическое поле вблизи поверхности фотоэлектрических элементов или электрически взаимодействующих с ними; - стеклянное покрытие на рабочей поверхности. Настоящий стандарт не распространяется на фотоэлектрические модули с концентраторами солнечного излучения, а также модули, выполненные из тандемных фотоэлектрических элементов