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Machine Model (MM) Electrostatic Discharge (ESD) Investigation-Reduction in Pulse Number and Delay Time 机器模型(MM)静电放电(ESD)调查减少脉冲数和延迟时间
本报告提供了在使用1秒(当前要求)和0.5秒延迟时间的情况下,评估从3个脉冲(当前要求)到1个脉冲的拟议变化的程序、结果和结论。
This report provides the procedures, results, and conclusions of evaluating a proposed change from 3 pulses (present requirement) to 1 pulse while using a delay time of both 1 second (present requirement) and 0.5 second.
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相似标准/计划/法规
现行
JEDEC JESD22-A115C
ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) SENSITIVITY TESTING MACHINE MODEL (MM)
静电放电(ESD)灵敏度试验机型号(MM)
2010-11-01
现行
BS EN 60749-27-2006+A1-2012
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Machine model (MM)
半导体器件 机械和气候试验方法
2013-01-31
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IEC 60749-27-2006
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第27部分:静电放电(esd)灵敏度测试 - 机器型号(mm)
2006-07-18
现行
IEC 60749-27-2006+AMD1-2012 CSV
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
半导体器件.机械和气候试验方法.第1部分: 27:静电放电(ESD)灵敏度测试-机器 型号(毫米)
2012-09-25
现行
GB/T 4937.27-2023
半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分:静电放电(ESD)敏感度测试 机器模型(MM)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 27: Electrostatic discharge(ESD) sensitivity testing—Machine model(MM)
2023-05-23
现行
IEC 60749-27-2006/AMD1-2012
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
修改件1.半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)灵敏度试验.机器模型(MM)
2012-09-25