首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
国家标准 行业标准 地方标准 团体标准 国际（区域）标准 国外国家标准 国际性专业标准 技术法规
国内舆情 国际舆情
文献服务 知识服务 服务站点
标准数字化 技贸措施研究
国家标准馆 国家数字标准馆 发展大事记
现行 JEDEC JESD22-A115C
到馆提醒
收藏跟踪
购买正版
ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) SENSITIVITY TESTING MACHINE MODEL (MM) 静电放电（ESD）灵敏度试验机型号（MM）
发布日期： 2010-11-01
JESD22-A115为参考文件；这不是JESD47（集成电路的压力测试驱动鉴定）的要求。JESD22-A115中描述的机器型号不应作为集成电路ESD鉴定的要求。只有人体模型（HBM）和充电设备模型（CDM）是JESD47中规定的必要ESD鉴定试验方法。
JESD22-A115 is a reference document; it is not a requirement per JESD47 (Stress Test Driven Qualification of Integrated Circuits). Machine Model as described in JESD22-A115 should not be used as a requirement for integrated circuit ESD qualification. Only human-body model (HBM) and charged-device model (CDM) are the necessary ESD qualification test methods as specified in JESD47.
分类信息
发布单位或类别： 美国-(美国)固态技术协会,隶属EIA
关联关系
研制信息
相似标准/计划/法规
现行
BS EN 60749-27-2006+A1-2012
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Machine model (MM)
半导体器件 机械和气候试验方法
2013-01-31
现行
JEDEC JESD22-A114F
ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) SENSITIVITY TESTING HUMAN BODY MODEL (HBM)
静电放电（ESD）灵敏度测试人体模型（HBM）
2008-12-01
现行
IEC 60749-27-2006
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第27部分:静电放电（esd）灵敏度测试 - 机器型号（mm）
2006-07-18
现行
IEC 60749-27-2006+AMD1-2012 CSV
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
半导体器件.机械和气候试验方法.第1部分: 27:静电放电（ESD）灵敏度测试-机器 型号（毫米）
2012-09-25
现行
GB/T 4937.27-2023
半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试 机器模型（MM）
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 27: Electrostatic discharge(ESD) sensitivity testing—Machine model(MM)
2023-05-23
现行
IEC 60749-27-2006/AMD1-2012
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
修改件1.半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电（ESD）灵敏度试验.机器模型（MM）
2012-09-25
现行
ESD TR5.2-01-01
Machine Model (MM) Electrostatic Discharge (ESD) Investigation-Reduction in Pulse Number and Delay Time
机器模型（MM）静电放电（ESD）调查减少脉冲数和延迟时间
现行
BS EN 61340-3-2-2007
Electrostatics-Methods for simulation of electrostatic effects. Machine model (MM) electrostatic discharge test waveforms
静电学
2007-04-30
现行
BS 02/209644 DC
IEC 60749-28. Ed.1. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM)
IEC 60749-28 Ed.1 静电放电（ESD）灵敏度测试 充电设备模型（CDM）
2002-10-11
现行
BS EN IEC 60749-26-2018
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM)
半导体器件 机械和气候试验方法 静电放电（ESD）灵敏度测试 人体模型（HBM）
2018-04-30
现行
IEC 60749-26-2018
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第26部分:静电放电（ESD）灵敏度测试 - 人体模型（HBM）
2018-01-15
现行
GB/T 4937.26-2023
半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试 人体模型（HBM）
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing—Human body model（HBM）
2023-09-07
现行
GB/T 37977.32-2019
静电学 第3-2部分:静电效应的模拟方法 机器模型（MM）的静电放电试验波形
Electrostatics—Part 3-2:Methods for simulation of electrostatic effects—Machine model(MM)electrostatic discharge test waveform
2019-08-30
现行
KS C IEC 60749-28
반도체 소자 — 기계적 및 기후적 시험방법 — 제28부: 정전기 방전(ESD) 감도 시험 — 대전소자 모델(CDM) — 소자 수준
半导体器件机械和气候试验方法第28部分:静电放电（ESD）灵敏度试验带电器件模型（CDM）器件级
2024-06-07
现行
IEC 60749-28-2022 RLV
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
半导体器件.机械和气候试验方法.第28部分:静电放电（ESD）灵敏度试验.带电器件模型（CDM）.器件级
2022-03-01
现行
IEC 60749-28-2022
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
半导体器件.机械和气候试验方法.第28部分:静电放电（ESD）灵敏度试验.带电器件模型（CDM）.器件级
2022-03-01
现行
UNE-EN 61340-3-2-2007
Electrostatics -- Part 3-2: Methods for simulation of electrostatic effects - Machine model (MM) electrostatic discharge test waveforms (IEC 61340-3-2:2006)
静电学第3-2部分:静电效应的模拟方法机器模型（MM）静电放电试验波形（IEC 61340-3-2-2006）
2007-11-28
现行
DIN EN IEC 60749-26
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) (IEC 60749-26:2018); German version EN IEC 60749-26:2018
半导体器件.机械和气候试验方法.第26部分:静电放电（ESD）灵敏度试验.人体模型（HBM）（IEC 60749-26-2018）；德文版EN IEC 60749-26:2018
2018-10-01
现行
DIN EN 61340-3-2
Electrostatics - Part 3-2: Methods for simulation of electrostatic effects - Machine model (MM) electrostatic discharge test waveforms (IEC 61340-3-2:2006); German version EN 61340-3-2:2007
静电学.第3-2部分:静电效应的模拟方法.机器模型（MM）静电放电试验波形（IEC 61340-3-2-2006）；德文版EN 61340-3-2:2007
2007-11-01
现行
DIN EN 60749-28
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (IEC 60749-28:2017); German version EN 60749-28:2017
半导体器件.机械和气候试验方法.第28部分:静电放电（ESD）灵敏度试验.带电器件模型（CDM）.器件级（IEC 60749-28-2017）；德文版EN 60749-28:2017
2018-02-01
  • 关于国家数字标准馆
  • 《国家标准化发展纲要》提出建设国家数字标准馆，推动标准化工作向数字化、网络化、智能化转型。中国标准化研究院正在全力推进国家数字标准馆建设，力争在2026年底建成“一个中心”和“一个平台”，即全球领先的标准数据资源中心，涵盖标准全生命周期的数字化、网络化、智能化研究与服务平台。
    • 文献服务
  • 查标准
  • 看标准
  • 买标准
  • 译标准
    • 知识服务
  • 查新颖性
  • 查有效性
  • 跟踪标准
  • 比对标准
    • 标准数字化
  • 专题数据库
  • 标准管理系统
  • 大数据分析系统
  • 标准智能研制系统
    • 出版物经营许可证：新出发京批字第直170229号
    地址：北京市海淀区知春路4号
    邮箱：service@cnis.ac.cn
    技术支持与订单查询：010-58811972/1360/1341/1328 京ICP备10046988号-46
    ️版权归中国标准化研究院所有