ISO/TR 14999-2:2019-光学和光子学 - 光学元件和光学系统的干涉测量 - 第2部分:测量和评估技术-国家数字标准馆

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Optics and photonics — Interferometric measurement of optical elements and optical systems — Part 2: Measurement and evaluation techniques 光学和光子学 - 光学元件和光学系统的干涉测量 - 第2部分:测量和评估技术

发布日期： 2019-07-22

本文件给出了干涉测量对象的基本解释，描述了干涉仪的硬件方面和评估方法，并给出了测试报告和校准证书的建议。

This document gives fundamental explanations to interferometric measurement objects, describes hardware aspects of interferometers and evaluation methods, and gives recommendations for test reports and calibration certificates.

分类信息

发布单位或类别：国际组织-国际标准化组织

ICS分类： 37.020成像技术 - 光学设备

关联关系

研制信息

归口单位： ISO/TC 172/SC 1

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