KS C IEC 60749-1-2006(2016)-半导体器件机械和气候试验方法第1部分:总则 -国家数字标准馆

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반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제1부：일반 사항 半导体器件机械和气候试验方法第1部分:总则

发布日期： 2006-11-30

该规格适用于半导体元件（个别元件及集成电路），制定了适用于IEC60749系列所有规格的通用条款。如果该规格与相关采购规格相冲突，则遵循采购规格。

이 규격은 반도체소자(개별 소자 및 집적회로)에 적용 가능하며, IEC 60749 시리즈의 모든규격에 적용되는 공통적인 조항을 제정한 것이다.이 규격과 관련 구매 규격이 상충될 경우, 구매 규격을 따른다.

分类信息

发布单位或类别：韩国-韩国标准

ICS分类： 31.080.01半导体分立器件 - 半导体器分立件综合

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研制信息

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