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现行 JEDEC JESD398(R2009)
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MEASUREMENT OF SMALL VALUES OF TRANSISTOR CAPACITANCE 晶体管电容小值的测量
发布日期: 1972-07-01
本标准包含电容测量的三端程序,并采取适当的预防措施,以屏蔽端子引线和金属外壳产生的外部影响。以前称为RS-398和/或EIA-398
This standard contains a three-terminal procedure for capacitance measurement with due precautions for shielding of extraneous effects due to terminal leads and metal enclosures. Formerly known as RS-398 and/or EIA-398
分类信息
发布单位或类别: 美国-JEDEC固态技术协会
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研制信息
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