ISO/TR 21477:2017-光学和光子学.光学元件和系统图纸的制备.表面缺陷规范和测量系统-国家标准馆·国家数字标准馆

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Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Surface imperfection specification and measurement systems 光学和光子学.光学元件和系统图纸的制备.表面缺陷规范和测量系统

发布日期： 2017-08-16

                ISO/TR 21477:2017旨在指导用户理解ISO 10110-7和ISO 14997中规定和评估表面缺陷的两个系统之间的起源、含义和差异，特别是尺寸法和可见性法，并提供如何使用它们的信息。提供的表格显示了两个系统中缺陷的大致等效屈服损失规格。

ISO/TR 21477:2017 intends to guide the user to understand the origins, meanings and differences between the two systems of specifying and evaluating surface imperfections in ISO 10110-7 and ISO 14997, specifically the dimensional method and the visibility method, and to provide information on how to use them. Tables are provided to show specifications of roughly equivalent yield loss for imperfections in the two systems.

分类信息

发布单位或类别：国际组织-国际标准化组织

ICS分类： 37.020成像技术 - 光学设备

关联关系

研制信息

归口单位： ISO/TC 172/SC 1

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