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起草单位: 天津市环欧半导体材料技术有限公司
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标准号
发布时间
现行
YS/T 679-2018
非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试 表面光电压法
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Test methods for minority carrier diffusion length in extrinsic semiconductors-Surface photovoltage method
发布单位或类别：
行业标准-有色金属
发布日期：
2018-10-22
CCS分类：
H21金属物理性能试验方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
GB/T 12965-2018
硅单晶切割片和研磨片
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Monocrystalline silicon as cut wafers and lapped wafers
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-09-17
CCS分类：
H82元素半导体材料
ICS分类：
29.045半导体材料
现行
GB/T 29852-2013
光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法
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Test method for measuring Phosphorus, Arsenic and Antimony in silicon materials used for photovoltaic applications by secondary ion mass spectrometry
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2013-11-12
CCS分类：
H82元素半导体材料
ICS分类：
29.045半导体材料
现行
GB/T 14844-2018
半导体材料牌号表示方法
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Designations of semiconductor materials
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-12-28
CCS分类：
H80半金属与半导体材料综合
ICS分类：
29.045半导体材料
现行
GB/T 19199-2015
半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法
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Test method for carbon acceptor concentration in semi-insulating gallium arsenide single crystals by infrared absorption spectroscopy
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2015-12-10
CCS分类：
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
GB/T 17170-2015
半绝缘砷化镓单晶深施主EL2浓度红外吸收测试方法
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Test method for the EL2 deep donor concentration in semi-insulating gallium arsenide single crystals by infrared absorption spectroscopy
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2015-12-10
CCS分类：
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
GB/T 19921-2018
硅抛光片表面颗粒测试方法
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Test method for particles on polished silicon wafer surfaces
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-12-28
CCS分类：
H21金属物理性能试验方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
GB/T 12964-2018
硅单晶抛光片
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Monocrystalline silicon polished wafers
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-09-17
CCS分类：
H82元素半导体材料
ICS分类：
29.045半导体材料
现行
GB/T 35309-2017
用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程
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Practice for evaluation of granular polysilicon by melter-zoner and spectroscopies
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2017-12-29
CCS分类：
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
GB/T 29849-2013
光伏电池用硅材料表面金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法
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Test method for measuring surface metallic contamination of silicon materials used for photovoltaic applications by inductively coupled plasma mass spectrometry
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2013-11-12
CCS分类：
H82元素半导体材料
ICS分类：
29.045半导体材料
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地 址：
北京市海淀区知春路4号
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