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标准号
发布时间
现行
GB/T 24581-2022
硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
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Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2022-03-09
CCS分类：
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
GB/T 24582-2023
多晶硅表面金属杂质含量测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法
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Test method for measuring surface metal impurity content of polycrystalline silicon—Acid extraction-inductively coupled plasma mass spectrometry method
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-08-06
CCS分类：
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
GB/T 4059-2018
硅多晶气氛区熔基磷检验方法
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Test method for phosphorus content in polycrystalline silicon by zone-melting method under controlled atmosphere
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-12-28
CCS分类：
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
GB/T 37385-2019
硅中氯离子含量的测定 离子色谱法
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Test method for chloride content of silicon—Ion chromatography method
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2019-03-25
CCS分类：
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
GB/T 29057-2023
用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程
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Practice for evaluation of polocrystalline silicon rods by float-zone crystal growth and spectroscopy
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-08-06
CCS分类：
H80半金属与半导体材料综合
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
T/CIET 039-2023
光伏行业绿色企业评价规范
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发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2023-04-20
CCS分类：
ICS分类：
27.160太阳能工程
现行
T/CIET 056-2023
绿色技术评价通则
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发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2023-04-20
CCS分类：
ICS分类：
13.020.01环境和环境保护综合
现行
T/CNIA 0061-2020
硅外延用四氯化硅中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
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发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2020-05-27
CCS分类：
L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
ICS分类：
77.040.01金属材料试验综合
【到馆阅览须知】
国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号，可接待到馆读者，为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
1. 本馆向在国家数字标准馆网络平台上完成实名注册和预约的读者开放。
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6. 请遵守公共秩序和国家标准馆相关管理规定，服从工作人员管理，自觉维护参观秩序和良好的阅读环境。
开放时间：
每周一至周五8:30-17:00（节假日不开放）
地 址：
北京市海淀区知春路4号
乘车线路：
乘坐地铁10号线、昌平线，在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。
服务咨询：
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