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起草人: 丁荣峥
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SJ/T 11704-2018
微电子封装的数字信号传输特性测试方法
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Digital signal transmission test method for microelectronic packages
发布单位或类别：行业标准-电子
发布日期： 2018-02-09
CCS分类：L55微电路综合
现行
SJ/T 11703-2018
数字微电子器件封装的串扰特性测试方法
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Crosstalk test method for digital microelectronic device packages
发布单位或类别：行业标准-电子
发布日期： 2018-02-09
CCS分类：L55微电路综合
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GB/T 15879.5-2018
半导体器件的机械标准化 第5部分：用于集成电路载带自动焊（TAB）的推荐值
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Mechanical standardization of semiconductor devices—Part 5: Recommendations applying to tape automated bonding(TAB) of integrated circuits
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2018-09-17
CCS分类：L55微电路综合
现行
GB/T 7092-2021
半导体集成电路外形尺寸
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Outline dimensions of semiconductor integrated circuits
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2021-03-09
CCS分类：L55微电路综合
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