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现行
GB/T 34995-2017
单频网授时接收设备技术要求和测量方法
Technical requirements and measurement methods of receiving equipments for time service in single frequency network
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2017-11-01
现行
GY/T 257.2-2014
广播电视现金音视频编解码第2部分:视频符合性测试
Advanced codng of video and audio fo broadcasting-part2:video conformance tesing
发布单位或类别:行业标准-广播电影电视
发布日期: 2014-11-02
现行
GD/J 087-2018
地面数字电视应急广播技术规范
Technical specification for emergency broadcasting of digital terrestrial television
发布单位或类别:行业标准-国电标准
发布日期: 2018-10-12
CCS分类:
ICS分类:
现行
GD/J 084-2018
中波调幅广播应急广播技术规范
Technical specification for emergency broadcasting of medium wave AM
发布单位或类别:行业标准-国电标准
发布日期: 2018-10-12
CCS分类:
ICS分类:
现行
DB34/T 2492-2015
沿江地区双季晚稻耐低温栽培技术规程
发布单位或类别:安徽省地方标准
发布日期: 2015-09-08
CCS分类:B05农林技术
现行
发布单位或类别:山西省地方标准
发布日期: 2019-07-08
CCS分类:B05农林技术
正在批准
20230530-T-524
电力现货市场运营 第3部分:省间技术支持系统
Electricity spot market operationPart 3: Inter provincial technical support system
发布单位或类别:国家标准计划
下达日期: 2023-08-06
CCS分类:F30
正在批准
20213173-T-339
半导体器件 栅介质层的时间相关介电击穿(TDDB)试验
Semiconductor devices—Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
发布单位或类别:国家标准计划
下达日期: 2021-08-24
CCS分类:L55微电路综合
正在批准
20231876-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第28部分:静电放电(ESD)敏感度测试 带电器件模型(CDM) 器件级
Semiconductor devices—Mechanical and climate test methods—Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing—Charged device model (CDM)—device level
发布单位或类别:国家标准计划
下达日期: 2023-12-28
正在批准
20201546-T-339
半导体器件 机械与气候试验方法 第44部分:半导体器件的中子辐照单粒子效应(SEE)试验方法
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
发布单位或类别:国家标准计划
下达日期: 2020-04-01