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起草人: 朱兴萍
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GB/T 26071-2010
太阳能电池用硅单晶切割片
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Mono-crystalline silicon as cut slices for photovoltaic solar cells
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2011-01-10
被代替
GB/T 26069-2010
硅退火片规范
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Specification for silicon annealed wafers
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2011-01-10
现行
GB/T 24578-2015
硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
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Test method for measuring surface metal contamination on silicon wafers by total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2015-12-10
现行
GB/T 12962-2015
硅单晶
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Monocrystalline silicon
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2015-12-10
现行
GB/T 32279-2015
硅片订货单格式输入规范
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Specification for order entry format of silicon wafers
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2015-12-10
被代替
GB/T 6616-2009
半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法　非接触涡流法
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Test methods for measuring resistivity of semiconductor wafers or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gauge
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2009-10-30
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