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  • 发布时间
现行
发布单位或类别:团体标准
发布日期: 2018-12-30
ICS分类:39.060珠宝
现行
T/IAWBS 013-2019
半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法
发布单位或类别:团体标准
发布日期: 2019-12-27
现行
发布单位或类别:团体标准
发布日期: 2024-12-24
ICS分类:
现行
GB/T 43493.1-2023
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分:缺陷分类
Semiconductor device—Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices—Part 1: Classification of defects
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2023-12-28