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历史
ASTM E1505-92(1996)
Standard Guide for Determining SIMS Relative Sensitivity Factors from Ion Implanted External Standards
从离子注入的外部标准物中测定SIMS相对灵敏度因子的标准指南
发布单位或类别:美国材料与试验协会
发布日期: 1992-11-15
CCS分类:
ICS分类:
现行
ASTM E1438-11(2019)
Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
用SIMS测量溅射深度剖面中界面宽度的标准指南
发布单位或类别:美国材料与试验协会
发布日期: 2019-11-01
CCS分类:
现行
ASTM E1504-11(2019)
Standard Practice for Reporting Mass Spectral Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
二次离子质谱法(SIMS)中质谱数据报告的标准实施规程
发布单位或类别:美国材料与试验协会
发布日期: 2019-11-01
CCS分类:
现行
ASTM E1634-11(2019)
Standard Guide for Performing Sputter Crater Depth Measurements
溅射坑深度测量的标准指南
发布单位或类别:美国材料与试验协会
发布日期: 2019-11-01
CCS分类:
现行
ASTM E1635-06(2019)
Standard Practice for Reporting Imaging Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
二次离子质谱(SIMS)中成像数据报告的标准实施规程
发布单位或类别:美国材料与试验协会
发布日期: 2019-11-01
CCS分类:
现行
ASTM E2426-10(2019)
Standard Practice for Pulse Counting System Dead Time Determination by Measuring Isotopic Ratios with SIMS
用SIMS测量同位素比测定脉冲计数系统死区时间的标准实施规程
发布单位或类别:美国材料与试验协会
发布日期: 2019-01-01
CCS分类:
现行
ASTM E1162-11(2019)
Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
二次离子质谱法(SIMS)中溅射深度剖面数据报告的标准实施规程
发布单位或类别:美国材料与试验协会
发布日期: 2019-11-01
CCS分类:
历史
ASTM E1162-11
Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
二次离子质谱法(SIMS)中溅射深度剖面数据报告的标准实施规程
发布单位或类别:美国材料与试验协会
发布日期: 2011-11-01
CCS分类:
历史
ASTM E1438-11
Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
用SIMS测量溅射深度剖面中界面宽度的标准指南
发布单位或类别:美国材料与试验协会
发布日期: 2011-11-01
CCS分类:
历史
ASTM E1880-12
Standard Practice for Tissue Cryosection Analysis with SIMS
SIMS组织冷冻分析标准实践
发布单位或类别:美国材料与试验协会
发布日期: 2012-11-01
CCS分类: