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半导体器件的机械标准化 第6-19部分:高温下封装翘曲度的测量方法和最大允许翘曲度
Mechanical standardization of semiconductor devices -Part 6-19: Measurement methods of the package warpage at elevated temperature and the maxium permissible warpage
下达日期:
2023-08-06
分类信息
发布单位或类别:
中国-国家标准计划
ICS分类:
31.080.01半导体分立器件 - 半导体器分立件综合
关联关系
研制信息
归口单位:
全国集成电路标准化技术委员会
起草单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所、
中国电子技术标准化研究院、
江苏长电科技股份有限公司、
天水七四九电子有限公司
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