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Mechanical Test Methods for Semiconductor Devices Part 2: Test Methods 2001 Through 2999 半导体器件机械试验方法第2部分:试验方法2001-2999
发布日期: 2015-01-23
本试验方法标准第2部分的修订版A(包括所有之前的修订版)确立了机械试验的统一试验方法,以确定对自然因素和军事行动周围条件有害影响的耐受性。在本标准中,术语“设备”包括晶体管、二极管、电压调节器、整流器、隧道二极管和其他相关部件。多部分试验方法标准的这一部分仅适用于半导体器件。
Revision A (all previous amendments incorporated)Part 2 of this test method standard establishes uniform test methods for the mechanical testing to determine resistance to deleterious effects of natural elements and conditions surrounding military operations. For the purpose of this standard, the term "devices" includes such items as transistors, diodes, voltage regulators, rectifiers, tunnel diodes, and other related parts. This part of a multipart test method standard is intended to apply only to semiconductor devices.
分类信息
发布单位或类别: 美国-美国军事规范和标准
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