ISO 21270:2004-表面化学分析——X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪——强度标度线性 -国家数字标准馆

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Surface chemical analysis — X-ray photoelectron and Auger electron spectrometers — Linearity of intensity scale 表面化学分析——X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪——强度标度线性

发布日期： 2004-06-15

ISO 21270:2004规定了两种方法，用于确定俄歇和X射线光电子能谱仪强度标度线性偏差可接受极限的最大计数率。它还包括校正强度非线性的方法，以便对于已证明相关校正方程有效的光谱仪，可以采用更高的最大计数率。

ISO 21270:2004 specifies two methods for determining the maximum count rate for an acceptable limit of divergence from linearity of the intensity scale of Auger and X-ray photoelectron spectrometers. It also includes methods to correct for intensity non-linearities so that a higher maximum count rate can be employed for those spectrometers for which the relevant correction equations have been shown to be valid.

分类信息

发布单位或类别：国际组织-国际标准化组织

ICS分类： 71.040.40分析化学 - 化学分析

关联关系

研制信息

归口单位： ISO/TC 201/SC 7

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