Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Machine model (MM)
半导体器件 机械和气候试验方法

2013-01-31

ESD Association Standard Test Method for the Protection of Electrostatic Discharge Susceptible Items - Two-Point Resistance Measurement
静电放电敏感物品保护的ESD协会标准试验方法.两点电阻测量

2021-10-28

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM)
半导体器件 机械和气候试验方法 静电放电（ESD）灵敏度测试 人体模型（HBM）

2018-04-30

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第27部分:静电放电（esd）灵敏度测试 - 机器型号（mm）

2006-07-18

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
半导体器件.机械和气候试验方法.第1部分: 27:静电放电（ESD）灵敏度测试-机器 型号（毫米）

2012-09-25

半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试 机器模型（MM）
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 27: Electrostatic discharge(ESD) sensitivity testing—Machine model(MM)

2023-05-23

ESD Association Standard Test Method for Protection of Electrostatic Discharge Susceptible Items - Volume Resistance Measurement of Planar Materials
静电放电敏感物品保护的ESD协会标准试验方法.平面材料的体积电阻测量

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第26部分:静电放电（ESD）灵敏度测试 - 人体模型（HBM）

2018-01-15

半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试 人体模型（HBM）
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing—Human body model（HBM）

2023-09-07

Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
修改件1.半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电（ESD）灵敏度试验.机器模型（MM）

2012-09-25

반도체 소자 — 기계적 및 기후적 시험방법 — 제28부: 정전기 방전(ESD) 감도 시험 — 대전소자 모델(CDM) — 소자 수준
半导体器件机械和气候试验方法第28部分:静电放电（ESD）灵敏度试验带电器件模型（CDM）器件级

2024-06-07

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
半导体器件.机械和气候试验方法.第28部分:静电放电（ESD）灵敏度试验.带电器件模型（CDM）.器件级

2022-03-01

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
半导体器件.机械和气候试验方法.第28部分:静电放电（ESD）灵敏度试验.带电器件模型（CDM）.器件级

2022-03-01

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) (IEC 60749-26:2018); German version EN IEC 60749-26:2018
半导体器件.机械和气候试验方法.第26部分:静电放电（ESD）灵敏度试验.人体模型（HBM）（IEC 60749-26-2018）；德文版EN IEC 60749-26:2018

2018-10-01

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (IEC 60749-28:2017); German version EN 60749-28:2017
半导体器件.机械和气候试验方法.第28部分:静电放电（ESD）灵敏度试验.带电器件模型（CDM）.器件级（IEC 60749-28-2017）；德文版EN 60749-28:2017

2018-02-01