ISO 19318:2004-表面化学分析——X射线光电子能谱；报告用于充电控制和充电校正的方法 -国家数字标准馆

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Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Reporting of methods used for charge control and charge correction 表面化学分析——X射线光电子能谱；报告用于充电控制和充电校正的方法

发布日期： 2004-05-05

ISO 19318:2004规定了通过X射线光电子能谱测量绝缘试样的芯层结合能时描述电荷控制和电荷校正方法的最低信息量，该信息量应与分析结果一起报告。还提供了在结合能测量中对电荷控制和电荷校正有用的方法的信息。

ISO 19318:2004 specifies the minimum amount of information describing the methods of charge control and charge correction in measurements of core-level binding energies for insulating specimens by X-ray photoelectron spectroscopy that shall be reported with the analytical results. Information is also provided on methods that have been found useful for charge control and for charge correction in the measurement of binding energies.

分类信息

发布单位或类别：国际组织-国际标准化组织

ICS分类： 71.040.40分析化学 - 化学分析

关联关系

研制信息

归口单位： ISO/TC 201/SC 7

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