现行

KS D ISO 15471(2020 Confirm)

표면 화학 분석－오제 전자 분광법－선택한 기기 성능의 파라미터 설명
表面化学分析－俄歇电子能谱学－选定仪器性能参数的描述

2005-12-28

现行

BS ISO 15471-2016

Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy. Description of selected instrumental performance parameters
表面化学分析 俄歇电子能谱 所选仪器性能参数的说明

2016-09-30

现行

GB/T 25187-2010

表面化学分析 俄歇电子能谱 - 选择仪器性能参数的表述
Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy - Description of selected instrumental performance parameters

2010-09-26

现行

BS PD ISO/TR 18394-2016

Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy. Derivation of chemical information
表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的推导

2016-05-31

现行

GB/Z 32494-2016

表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的解析
Surface chemical analysis—Auger electron spectroscopy—Derivation of chemical information

2016-02-24

现行

ISO/TR 18394-2016

Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy — Derivation of chemical information
表面化学分析.俄歇电子光谱.化学信息的推导

2016-05-02

现行

BS ISO 24236-2005

Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy. Repeatability and constancy of intensity scale
表面化学分析 俄歇电子能谱 强度标度的重复性和恒常性

2005-05-12

现行

GB/T 29558-2013

表面化学分析 俄歇电子能谱 强度标的重复性和一致性
Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy - Repeatability and constancy of intensity scale

2013-07-19

现行

GB/T 32565-2016

表面化学分析 俄歇电子能谱（AES）数据记录与报告的规范要求
Surface chemical analysis—Recording and reporting data in Auger electron spectroscopy (AES)

2016-02-24

现行

ISO 24236-2005

Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy — Repeatability and constancy of intensity scale
表面化学分析——俄歇电子能谱；强度标度的重复性和恒常性

2005-04-19

现行

ISO 16242-2011

Surface chemical analysis — Recording and reporting data in Auger electron spectroscopy (AES)
表面化学分析——俄歇电子能谱（AES）中数据的记录和报告

2011-11-25

现行

BS ISO 18516-2006

Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. Determination of lateral resolution
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率的测定

2006-11-30

现行

GB/T 28632-2012

表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定
Surface chemical analysis － Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy － Determination of lateral resolution

2012-07-31

现行

BS ISO 29081-2010

Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy. Reporting of methods used for charge control and charge correction
表面化学分析 俄歇电子能谱 报告用于充电控制和充电校正的方法

2010-02-28

现行

GB/T 32998-2016

表面化学分析 俄歇电子能谱 荷电控制与校正方法报告的规范要求
Surface chemical analysis—Auger electron spectroscopy—Reporting of methods used for charge control and charge correction

2016-10-13

现行

ISO 29081-2010

Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy — Reporting of methods used for charge control and charge correction
表面化学分析——俄歇电子能谱；报告用于充电控制和充电校正的方法

2010-02-05

现行

GB/T 36504-2018

印刷线路板表面污染物分析 俄歇电子能谱
Guide for the analysis of the printed circuit board surface contamination—Auger electron spectroscopy

2018-07-13

现行

GB/T 41072-2021

表面化学分析 电子能谱 紫外光电子能谱分析指南
Surface chemical analysis—Electron spectroscopies—Guidelines for ultraviolet photoelectron spectroscopy analysis

2021-12-31

现行

KS D ISO 19319(2020 Confirm)

표면 화학 분석－오제 전자 분광법과 X선 광전자 분광법－측면 분해능, 분석 영역,분석기로 측정한 시료 범위의 결정
表面化学分析－俄歇电子能谱和X射线光电子能谱－分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定

2005-12-28

现行

GB/T 29556-2013

表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - determination of lateral resolution, analysis area, and sample area viewed by the analyser

2013-07-19