BS ISO 13095:2014-表面化学分析原子力显微镜用于纳米结构测量的AFM探针柄轮廓的原位表征程序-国家数字标准馆

现行 BS ISO 13095:2014

到馆阅读

收藏跟踪

购买正版

Surface Chemical Analysis. Atomic force microscopy. Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement 表面化学分析原子力显微镜用于纳米结构测量的AFM探针柄轮廓的原位表征程序

发布日期： 2014-08-31

交叉引用:ISO 18115-2:2010ISO/TS 80004-4:2011ISO 11039ISO 11952ISO 18115-2:2010购买本文件时可获得的所有现行修订均包含在购买本文件中。

Cross References:ISO 18115-2:2010ISO/TS 80004-4:2011ISO 11039ISO 11952ISO 18115-2:2010All current amendments available at time of purchase are included with the purchase of this document.

分类信息

发布单位或类别：英国-英国标准学会

关联关系

研制信息

相似标准/计划/法规

Surface chemical analysis — Atomic force microscopy — Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size
表面化学分析.原子力显微镜.有限探针尺寸放大原子力显微镜图像的恢复程序指南

Surface Chemical Analysis — Atomic force microscopy — Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement
表面化学分析 - 原子力显微镜 - 用于纳米结构测量的AFM探针柄轮廓的原位表征程序

GB/T 40128-2021

表面化学分析原子力显微术二硫化钼片层材料厚度测量方法
Surface chemical analysis—Atomic force microscopy—Test method for thickness of the two-dimensional layered molybdenum disulfide nanosheets

BS ISO 21222-2020

Surface chemical analysis. Scanning probe microscopy. Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method
表面化学分析扫描探针显微镜用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序

Surface chemical analysis — Scanning probe microscopy — Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method
表面化学分析.扫描探针显微镜.用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序

《国家标准化发展纲要》提出建设国家数字标准馆，推动标准化工作向数字化、网络化、智能化转型。中国标准化研究院正在全力推进国家数字标准馆建设，力争在2026年底建成“一个中心”和“一个平台”，即全球领先的标准数据资源中心，涵盖标准全生命周期的数字化、网络化、智能化研究与服务平台。

专题数据库

标准管理系统

大数据分析系统

标准智能研制系统