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现行
GB/T 38341-2019
微机电系统(MEMS)技术 MEMS器件的可靠性综合环境试验方法
Micro-electromechanical system technology—The reliability test methods of MEMS in integrated environments
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2019-12-31
CCS分类:L55微电路综合
作废
发布单位或类别:广东省地方标准
发布日期: 2014-08-14
CCS分类:K32控制电器
作废
发布单位或类别:广东省地方标准
发布日期: 2014-08-14
CCS分类:K32控制电器
作废
发布单位或类别:广东省地方标准
发布日期: 2015-03-26
CCS分类:L19磁性元器件
作废
发布单位或类别:广东省地方标准
发布日期: 2014-08-18
CCS分类:K32控制电器
正在批准
20214738-T-339
半导体器件 第19-1部分智能传感器 智能传感器的控制方案
Semiconductor devices Part 19-1: Smart sensors – Control scheme of smart sensors
发布单位或类别:国家标准计划
下达日期: 2021-12-31
正在批准
20210840-T-339
电子元器件 半导体器件长期贮存 第4部分:贮存
Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 4: Storage
发布单位或类别:国家标准计划
下达日期: 2021-04-30
CCS分类:L55微电路综合
现行
GB/T 4937.31-2023
半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分:塑封器件的易燃性(内部引起的)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 31:Flammability of platic-encapsulated devices(internally induced)
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2023-05-23
现行
GB/T 36295-2018
家用和类似用途机械式磁性接近开关
Mechanical magnetic proximity switches for household and similar use
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2018-06-07
CCS分类:K32控制电器
现行
GB/T 4937.23-2023
半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 23:High temperature operating life
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2023-05-23